10.3969/j.issn.1673-629X.2007.01.078
一种选择多个单元的重新播种内建自测试方法
随着集成电路技术的迅速发展,芯片的集成度越来越高,怎样对电路进行有效测试就显得越来越重要.其中内建自测试被认为是解决测试问题有效方法之一.文中提出了一种选择多个单元的重新播种BIST测试方法,实验结果表明该方法可以降低硬件开销.
内建自测试、重新播种、线性反馈移位寄存器、混合测试
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TN407(微电子学、集成电路(IC))
安徽省教育厅自然科学基金2006kj156c
2007-03-13(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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