空间粒子辐射引起存储单元多位比特纠错方案

摘要：

介绍了汉明码检/纠错的原理,并以IDT公司开发的具有检测两位错误和纠正一位错误的IDT49C465检/纠错电路单元为基础.针对主存储器某地址单元遭遇高能粒子轰击导致两位或多位比特出错的情况,提出了解决这类错误的一种方案.此方案通过利用阵列移位寄存器组对存储区数据进行转置来实现,并对此方案的数据可靠性做了概率分析.

关键词：粒子辐射、汉明检/纠错、阵列移位寄存器组

所属期刊栏目：15

分类号：TP302.8(计算技术、计算机技术)

在线出版日期：2005-12-29（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：154-156