纳米SiC/PTFE复合材料微观结构SEM图像处理及分析
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.3969/j.issn.1674-3644.2011.01.006

纳米SiC/PTFE复合材料微观结构SEM图像处理及分析

引用
为了对纳米聚合物复合材料微观结构进行定量分析,利用Visual C++开发纳米SiC/PTFE复合材料SEM图像分析系统,该系统包括图像灰度均衡、灰度拉伸、平滑与滤波等预处理功能以及图像分割、图像形态学处理、粒子标记等处理分析功能,可对SEM图像中粒子大小进行区分.结果表明,纳米SiC/PTFE复合材料SEM图像经直方图均衡化处理后,对比度明显增强,灰度级变宽,灰度拉伸使SEM图像中纳米粒子显示更清晰,平滑与滤波处理能抑制图像中的噪声.采用最大类间方差法分割图像的效果优于迭代阈值分割法,图像形态学处理能提高纳米粒子信息被识别的能力,粒子标记能为PTFE中不同团聚尺寸的纳米粒子赋予不同的灰度值以对其进行区分.

图像处理、纳米SiC、PTFE、复合材料、微观结构

34

TB302.5(工程材料学)

中央高校基本科研业务费专项基金项目KYZ200921;高等学校博士点基金项目20060307002

2011-04-29(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共6页

23-27,61

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

武汉科技大学学报(自然科学版)

1674-3644

42-1608/N

34

2011,34(1)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn