用正电子寿命谱研究GeSex硫系玻璃的自由体积

摘要：

采用正电子寿命谱和拉曼散射研究了不同组分配比的GeSex(x=6,7,8,9)硫系玻璃的微结构.正电子寿命结果显示在x=8时,其平均正电子寿命具有最小值.拉曼光谱结果研究表明,这种硫系玻璃样品主要由[GeSe4]四面体和Seμ链的结构单元构成.以上的实验结果用级配理论得到了合理的解释,这两种结构单元配比关系的变化导致硫系玻璃样品中的自由体积变化,从而导致正电子平均寿命减小.研究发现GeSe8具有最小的自由体积,即具有最稳定的结构.

关键词：硫系玻璃、正电子寿命、自由体积、拉曼散射、级配理论

所属期刊栏目：61

分类号：O474(半导体物理学)

资助基金：国家自然科学基金资助项目11275142

在线出版日期：2015-05-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页码：174-178