CuO/ZnO量子点异质结及同轴纳米线异质结构的研制
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CuO/ZnO量子点异质结及同轴纳米线异质结构的研制

引用
采用离子束溅射技术和热氧化工艺,对预先制备的ZnO纳米线表面进行纳米CuO修饰,研究了不同溅射工艺条件下对形成的CuO/ZnO纳米线异质结构的影响,通过控制溅射参数成功地合成出不同CuO量子点尺寸和分布密度的CuO/ZnO量子点异质结和CuO为壳层的CuO/ZnO同轴纳米线异质结构.将X射线衍射仪(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)和透射电子显微镜(TEM)用于研究样品的结构和形貌.实验结果表明,溅射在ZnO纳米线表面的Cu膜的厚度对形成的CuO/ZnO异质结构起着重要的作用.在Cu膜适度较薄时,获得了直径仅5 nm、分布较均匀的高密度(2.05×1010mm-2)CuO/ZnO量子点异质结;而Cu膜较厚时,形成的是CuO/ZnO同轴纳米线异质结构.利用高分辨透射电子显微镜(HRTEM)进一步对量子点异质结和同轴纳米线异质结的界面晶体结构进行了研究.

CuO/ZnO、量子点异质结、同轴纳米线异质结构

57

O475;O781(半导体物理学)

国家自然科学基金资助项目10975109

2012-04-21(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

215-219

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武汉大学学报(理学版)

1671-8836

42-1674/N

57

2011,57(3)

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