10.3321/j.issn:1671-8836.2004.01.012
射频溅射法制备掺铂TiO2薄膜的基本性质
用射频反应溅射法制备了掺铂的TiO2薄膜.用X射线衍射仪(XRD),紫外-可见(UV-vis)光谱仪,电子扫描显微电镜(SEM)和X光电子能谱分析仪(XPS)对薄膜的基本性质进行了表征.研究结果表明:掺铂可以显著促进锐钛矿相的生长; TiO2薄膜在紫外的吸收边发生红移,其光谱响应范围得到了提高;铂氧化物的分解,促使薄膜表面出现了分散分布的微米尺寸岛状突出物,同时导致单质铂在薄膜表面发生富集.
二氧化钛、铂、表面形貌、富积
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O484.4+1(固体物理学)
国家自然科学基金59871033
2004-03-26(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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