10.3321/j.issn:1671-8836.2002.05.019
a-Se薄膜在X-ray照射下的光衰特性研究
依据光电导与弛豫时间成反比变化的理论 ,在蒸发温度为220℃的条件下用真空沉积法制备了多块厚度不同的a-Se薄膜,对其在X-ray照射下的光衰效应进行实验研究. 实验结果表明a-Se薄膜在厚度较小时其灵敏度随厚度的增加而增加,在275~457 μm之间时,a-Se灵敏度存在极大值. 实验结果对基于a-Se薄膜光电导特性的探测器的性能优化有一定的指导作用.
a-Se、光衰、灵敏度
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O484.4(固体物理学)
湖北省自然科学基金20390532
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共4页
597-600