利用夹角余弦和聚类分析的电离层TEC混沌预测

摘要：

利用120°E、45°N上空的2008年年积日101～150 d时间段内共600个电离层格网TEC数据,分析了该点上空电离层TEC参数的混沌特性,发现其关联维数为2.263 2,嵌入维数m=5,最大Lyapunov指数为0.083 3,该TEC时间序列具有混沌的特征,存在混沌现象.利用加权一阶局域法对TEC时间序列进行预测时,提出了利用夹角余弦和聚类分析方法对相似相点进行选择的方法,结果表明,在5维相空间中,该方法除在第4分向量略不及欧氏距离和夹角余弦方法外,其余4个分向量均优于后两种方法.利用该方法选择的相似相点进行一阶局域预测时,得到的标准差STD(0.618 TECU)和RMS(0.623 TECU)均小于欧氏距离和夹角余弦得到的STD和RMS,说明该方法可以准确地搜索到与基准点相关性更强的相似相点,预测精度更高.

关键词：电离层TEC、混沌特征、夹角余弦、聚类分析、加权一阶局域法

所属期刊栏目：39

分类号：P352(空间物理)

资助基金：国家自然科学基金资助项目41374009,41274018;国家973计划资助项目2013CB733302;The National Natural Science Foundation of China,Nos.41374009,41274018;the Major State Basic Research Development Program of China973 Program;No.2013CB733302

在线出版日期：2014-04-28（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：441-444,456