推扫式高光谱传感器集成的POS系统视准轴及位置偏差检校

摘要：

推扫式高光谱传感器与其集成的定位定向系统(简称为POS系统)间的视准轴偏差是其影像直接对地目标定位的主要误差源之一.由于垂直下视推扫式高光谱影像连接点间构网强度较弱,不能够进行严密的光束法平差检校,本文将POS系统解算的外方位元素作为只含有系统误差的观测值,建立视准轴和位置偏差简单的光束法平差检校模型.实验结果表明,该检校模型可靠有效,实验区经检校后的直接对地目标定位精度显著提高,其平面中误差约1.4 m(约4个像元),高程中误差约4.4 m(约13像元).

关键词：视准轴偏差、推扫式、检校、定位定向系统(POS)、光束法平差、位置偏差、高光谱

所属期刊栏目：38

分类号：P246.2;TP73(测绘仪器)

资助基金：中国科学院对地观测与数字地球科学中心主任基金资助项目YIZZ10101B

在线出版日期：2013-10-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：973-977