X射线荧光面扫描分析技术在文物保护中的应用

摘要：

X射线荧光分析法由于其分析速度快、可测元素范围广、检出限低等优点被广泛应用于各个领域。X射线荧光面扫描分析技术将光学图像与元素分析完美地结合，为科研工作者的研究和分析提供了新的分析手段。通过对文物面扫描分析可得到文物整体元素分布图，对研究文物的组成、制作工艺及辩伪有非常重要的意义。

关键词：X射线荧光、面扫描、文物

分类号：G264;K878;O657.34

在线出版日期：2016-05-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：96-98