10.3969/j.issn.1001-6848.2010.03.024
基于双CPU系统在微电机测试中的应用
文章设计的微电机测试系统,采用了"数字信号处理器(DSP)+单片机(MCU)"的双CPU系统,并由双口RAM来构成双机系统方案,同时整个系统的软硬件设计均采用模块化设计思想,便于功能的移植和实施.整个设计显著提高了微电机测试的测量精度和处理速度.
数字信号处理器、单片机、微电机测试、双口RAM
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TM38(电机)
2010-05-31(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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