多通道器件过电应力失效问题分析研究

摘要：

过电应力失效作为集成电路应用中最常见的失效模式,是导致器件现场失效的重要原因,为进一步克服这一失效因素,提高成品率,以某型号器件的具体失效案例为例,从产品失效机理出发展开研究,提出一种针对多通道结构器件的过电应力失效分析方法.首先逐一排查ESD脉冲、系统异常脉冲和开关机浪涌电流等失效因素,根据失效因素进行仿真试验,使产品质量问题复现,定位产品失效原因,最终采用应用设计优化的方式彻底解决此类结构的过电应力失效问题.该分析方法有利于增强集成电路器件的质量保障,对于不同结构的集成电路也有一定的引申参考价值.

关键词：过电应力、ESD失效、失效分析、多通道结构

所属期刊栏目：44

分类号：TN406(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2023-11-06（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：13-17