一种基于双模冗余的扫描结构TSPC型D触发器设计

摘要：

针对纳米级工艺中存在的组合逻辑电路单粒子瞬态现象对电路可靠性的危害问题.通过采用基于延迟单元的双模冗余思想,在传统设计的基础上,提出一种改进的可以抗单粒子翻转和单粒子瞬态的带有扫描输入功能的TSPC型D触发器.该设计采用双模冗余结构实现抗单粒子翻转加固,通过引入延迟单元结构消除输入数据信号所产生的SET瞬态脉冲,并添加扫描输入功能增强触发器的灵活性与系统的可测性.通过UMC 55 nm工艺软错误故障注入仿真,结果表明,所提出的电路结构能够有效抑制单粒子翻转和单粒子瞬态脉冲对D触发器可靠性的影响.

关键词：单粒子翻转、单粒子瞬态、双模冗余、D触发器

所属期刊栏目：44

分类号：TN402(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2023-11-06（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：1-5