一种数字电路单粒子翻转测试方法

摘要：

为提高航天器系统设计的可靠性,避免单粒子效应对航天器系统造成损坏,在单粒子翻转经典测试方法"黄金芯片比较法"的基础上,设计一种硬件实现的测试方法.方法通过对输出高低电平相关区域的重新取舍,采用合适芯片从硬件上实现数据选择器、锁存器与数值比较器的功能优化,并进行FPGA移植,以解决经典方法在电平翻转时出现误判的问题.同时也详细阐述了移植FPGA过程中的器件选取与程序设计.实际测试表明,改进后的测试方法获得了良好的抗干扰性,为单粒子效应模拟试验提供有效的支持.

关键词：单粒子翻转测试、黄金芯片比较法、FPGA移植

所属期刊栏目：44

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2023-03-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：10-13