一种数字电路单粒子翻转试验系统设计

摘要：

随着航空航天事业高速发展,抗辐射元器件的使用需求日益旺盛,作为抗辐射性能评估方法之一的单粒子翻转试验愈发体现出重要性.针对单粒子翻转试验条件的设定与优化,设计一种单粒子翻转试验系统.系统可适应绝大部分数字电路的试验需求,采用ARM与FPGA相结合的方式,使用独立设计的DB50分线装置,具备多路输入、多路输出、多路比较的功能.该试验系统驱动能力强、稳定性高,可更有效地进行各类数字电路单粒子翻转效应测试,有助于提高研究效率并缩短开发周期.

关键词：单粒子翻转、抗辐射性能评价、数字电路测试

所属期刊栏目：43

分类号：TN406(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2022-10-25（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：6-9