高可靠集成电路典型失效模式类型与原因分析

摘要：

鉴于高可靠集成电路在现代信息化电子设备应用领域的关键地位,为了保证高可靠集成电路充分发挥其特点、降低失效率,对高可靠集成电路典型失效模式类型进行研究.从集成电路选用、二次筛选、失效分析、破坏性物理分析等方面介绍高可靠集成电路的筛选、考核方式.以实际研究工作中遇到的引线键合失效及各种材料缺陷为例,详细讨论典型的失效模式,并以寿命浴盆曲线、老炼试验、分析程序、各类图表等工具加以分析,提出相应的解决方案.

关键词：高可靠集成电路、二次筛选、失效分析、破坏性物理分析、失效模式

所属期刊栏目：43

分类号：TN406(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2022-09-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：34-37