93C56B耐久性试验方法研究

摘要：

为进一步挖掘EEPROM器件的应用潜力,以微芯片93C56B为例,设计一套针对存储数据耐久性的试验方法.从具体工艺需求入手,探讨万次擦写对存储器的耐久性与产品可靠性的意义.基于前期工作经验和成果,面向生产第一线,从硬件、软件两方面设计并实现一套具体的擦写器系统,并在使用中减少人工干预,提高工作效率,使操作简单、方便、直观.擦写器系统硬件体积小、软件界面友好、易操作,便于查错和批量作业,已在实际生产测试中得到良好应用,对于节约时间与人工成本效果明显.

关键词：EEPROM器件、93C56B型微芯片、数据擦写、数据校验、存储耐久性

所属期刊栏目：43

分类号：TN406(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2022-07-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：34-37