抗单粒子功能中断的加固技术研究

摘要：

为降低辐射环境中单粒子功能中断(SEFI)对集成电路的影响,在研究单粒子功能中断原理的基础上,开展了DICE触发器抗单粒子功能中断技术研究.在深入分析单粒子功能中断的诱因的基础上,结合DICE触发器电路结构,设计了包含时钟冗余电路、主DICE锁存器、从DICE锁存器、延时滤波电路、相位转换电路的DICE触发器,得到了具有抗单粒子功能中断能力的加固DICE触发器.在仿真电路中,通过增加模拟单粒子效应(SEE)的电流源,仿真验证单粒子干扰(SED)对DICE触发器的影响.仿真结果表明,该加固DICE触发器具有良好的抗单粒子功能中断能力,可以有效抑制单粒子引起的DICE触发器功能中断.

关键词：单粒子、单粒子功能中断、DICE触发器、电流源

所属期刊栏目：41

分类号：TN47(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2020-03-31（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：1-5