万年历芯片DS1302功能测试方法研究

摘要：

为完成集成电路芯片DS1302的功能测试工作,利用计算机辅助测试技术,搭建测试系统.系统硬件采用计算机、单片机、被控芯片三级相连结构,软件采用C#编写的上位机程序和C语言编写的下位机程序,两者之间按照约定的通讯协议进行交互,并计算机作为上位机,单片机作为下位机.待测试的被控芯片接收主控芯片的命令,返回信息给主控芯片.经过长期实测检验,证实该套测试系统能够缩短集成电路芯片DS1302的测试时间,提高测试准确度,达到了预期目的,且具有一定的可移植性.

关键词：二进码十进数、计算机辅助测试、串行外设接口

所属期刊栏目：40

分类号：TN47(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2019-11-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：13-16