SoC电路的自动测试方法研究

摘要：

片上系统SoC作为集成了多种类型外设、面向特定用途的标准产品,对其进行全面测试是保证产品能够可靠工作的必要环节,然而由于工作受内核控制,不能通过施加简单激励来得到期望状态进行测试.故此提出一种基于自动测试设备的SoC电路自动测试方法.通过介绍自动测试程序的开发流程,对启动程序和自动测试程序进行设计,建立起自动测试的实现方案.以C8051F500-IQ电路为例,在UltraFLEX自动测试系统实现了自动测试,测试结果表明该方案能够完成对电路功能与性能的全面评价.

关键词：片上系统、内核、启动程序、自动测试

所属期刊栏目：40

分类号：TN47(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2019-09-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：1-4