大容量存储器高可靠性3D封装技术研究

摘要：

大容量数据存储在高可靠性、高密度、低成本等的现实上存在技术瓶颈,针对此问题,3D封装作为一种有效方案被提出.从陶瓷封装技术的角度出发,探讨一种大容量存储器电路的高可靠堆叠封装方法,以陶瓷双面两腔外壳完成存储器芯片的3D封装.提出热匹配特性控制、多芯片堆叠和低弧度引线键合技术.对大容量存储芯片3D封装的可靠性设计、关键工艺技术、典型故障模式、故障机理和解决方案等展开研究,以提高存储器的可靠性、环境适应性和空间存储效率.实验证明,以此法完成封装的单一电路的存储容量达到世界一流水平,满足国内外新兴产业及高可靠性领域使用需求.

关键词：大容量存储器、3D封装、高可靠性、失效模式

所属期刊栏目：40

分类号：TN305.94(半导体技术)

在线出版日期：2019-07-02（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：7-10