功率MOSFET寿命预测技术研究

摘要：

电子元器件是电子设备的基础,是不能再进行分割的基本单元,因此电子元器件的寿命在一定程度上决定了电子设备的使用寿命.功率MOSFET是所有元器件中使用最广泛的品种之一,数据统计表明,功率MOSFET是电子设备中失效率最高的元器件,整个寿命周期以性能退化失效为主.以MOSFET器件为例,模拟器件的使用环境、电压、电流,同时不断对试验过程中的器件进行测试,通过对测试数据进行分析,确定器件的敏感参数,建立以敏感参数为主的退化模型,从而估算元器件的寿命.

关键词：功率MOSFET、寿命预测、敏感参数、退化模型

所属期刊栏目：38

分类号：TN3(半导体技术)

在线出版日期：2017-11-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：4-7,19