10.3969/j.issn.1002-2279.2016.05.005
基于TDS系统的超大型测试向量生成技术研究
超大型测试向量生成技术是数字电路芯片测试中的难点,对芯片测试效率和产品良率都有较大影响。介绍一种基于 TDS 向量生成系统的超大型测试向量生成技术。阐述了 TDS 向量生成系统的体系结构,以某超大型测试向量的生成过程为例,介绍该系统使用模块化方式生成超大型测试向量的方法,并对具体生成方案进行分析,使用裁剪、压缩等多种优化手段完成测试向量生成,保证测试向量的简洁和准确。生成后的向量可以成功载入目标测试系统,极大节省了测试系统资源。通过该方法,实现了超大型测试向量的高效生成,极大地减小了测试向量的体积,提高了工程量产测试效率。
芯片测试系统、系统架构、向量生成、优化、压缩、模块化
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TN47(微电子学、集成电路(IC))
2016-11-23(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共5页
17-20,24