基于TDS系统的超大型测试向量生成技术研究

摘要：

超大型测试向量生成技术是数字电路芯片测试中的难点，对芯片测试效率和产品良率都有较大影响。介绍一种基于 TDS 向量生成系统的超大型测试向量生成技术。阐述了 TDS 向量生成系统的体系结构，以某超大型测试向量的生成过程为例，介绍该系统使用模块化方式生成超大型测试向量的方法，并对具体生成方案进行分析，使用裁剪、压缩等多种优化手段完成测试向量生成，保证测试向量的简洁和准确。生成后的向量可以成功载入目标测试系统，极大节省了测试系统资源。通过该方法，实现了超大型测试向量的高效生成，极大地减小了测试向量的体积，提高了工程量产测试效率。

关键词：芯片测试系统、系统架构、向量生成、优化、压缩、模块化

所属期刊栏目：37

分类号：TN47(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2016-11-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：17-20,24