适用于1553总线协议的内建自测试实现

摘要：

提出了一种适用于1553总线协议的内建自测试实现方法。该方法在传统协议处理器基础上，增加了用于存储测试向量的 ROM、自测试逻辑电路及测试寄存器，能实现1553总线协议处理器的协议逻辑自测试、编解码自测试、RAM自测试，并将测试结果存储到内建自测试状态寄存器1CH 中，用户通过访问该寄存器可以随时了解当前自测试的状态或结果。采用理论结合仿真的方法分析了协议处理器的自测试响应，仿真结果表明该协议处理器实现了内建自测试功能，内建自测试结果说明1553协议处理器的协议逻辑和 RAM的读写功能均正常。该测试方法有效提高了测试覆盖率，降低了电路测试程序开发的难度。

关键词：1553总线、内建自测试、协议逻辑、编解码、RAM自测试、覆盖率

所属期刊栏目：37

分类号：TN492(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2016-11-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：1-5