闪存高压电路的总剂量辐射效应研究

摘要：

研究了闪存电路系统中高压电路的总剂量辐射效应（TID）。通过对内部高压电荷泵电路和高压负载电路的TID辐射效应测试研究，表明辐照后高压通路相关的存储阵列及高压晶体管漏电将造成电荷泵电路的负载电流过载失效，最终导致闪存电路编程或擦除操作失效。

关键词：闪存、高压电路、电荷泵、总剂量辐射

分类号：TN47(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2015-01-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：4-7