10.3969/j.issn.1002-2279.2013.03.006
CV测试中的一种异常现象及解决方法
针对半导体CV测试中出现的一种曲线异常现象进行分析,找出问题所在,最终得出解决的办法.并提出一些有利于改进CV测试效果的建议.
CV测试、曲线异常、温偏实验
34
TN4(微电子学、集成电路(IC))
2013-07-30(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共2页
14-15
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10.3969/j.issn.1002-2279.2013.03.006
CV测试、曲线异常、温偏实验
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TN4(微电子学、集成电路(IC))
2013-07-30(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共2页
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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