FPGA的空间容错技术研究

摘要：

基于SRAM的FPGA对于空间粒子辐射非常敏感,很容易产生软故障,所以对基于FPGA的电子系统采取容错措施以防止此类故障的出现非常重要.通过对敏感电路使用三模冗余(TMR)方法并利用FPGA的动态可重构特性,可以有效的增强FPGA的抗单粒子性能,解决FPGA对因空间粒子辐射而形成的软故障.

关键词：三模冗余(TMR)、容错、FPGA重构

所属期刊栏目：32

分类号：TN911

在线出版日期：2012-04-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：18-20