高性能双精度浮点除法器研究
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.3969/j.issn.1002-2279.2011.06.001

高性能双精度浮点除法器研究

引用
以IEEE 754标准为基础,完成了双精度浮点除法器的设计.整个设计包括预处理、指数减、尾数除、规格化、舍入判断、溢出判断和异常处理六部分.在尾数除部分用了SRT基4算法和改进的全并行基4、基8、基16和基256这5种不同的除法算法来实现.并分析了仿真和逻辑综合的结果,它们各自有不同的优点,可以适用不同的场合.如果综合考虑时钟周期数、时延、面积等方面的因素,全并行基8和基16算法是比较理想的选择.

除法器、算法、SRT基4、并行

32

TN432(微电子学、集成电路(IC))

2012-04-20(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共5页

1-5

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

微处理机

1002-2279

21-1216/TP

32

2011,32(6)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn