三模冗余技术在FPGA领域的应用

摘要：

空间系统受到高能粒子的轰击,可能对时序等电路产生影响,改变器件的逻辑状态,导致存储单元逻辑‘0’与‘1’的翻转,产生关键数据出错,甚至整个系统的瘫痪.介绍了空间辐射效应的种类及对于不同类型的效应采用的抗辐射方法以及目前流行的三模冗余软件XTMR的实现原理和实现过程.

关键词：辐射效应、现场可编程门阵列、三模冗余技术

所属期刊栏目：32

分类号：TN47(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2012-03-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：15-17