MT-6000中的内建自测试设计

摘要：

MT - 6000是一款时分多路复用串行数据总线控制芯片.其特点是高集成度,高容错性以及在恶劣环境下的高可靠性等.芯片设有内建自测试功能来保障其可用性,同时自测试方法简洁,其功能覆盖达80％以上.研究了MT - 6000的系统结构,设计了核心部分的内建自测试,包括自测试码产生方法及自测试电路.最后给出了实验分析结果.

关键词：内建自测试、自测试码、自测试电路

所属期刊栏目：32

分类号：TP306(计算技术、计算机技术)

资助基金：湖南省自然科学基金项目09JJ6094;湖南省科技计划资金项目2010GK3069

在线出版日期：2012-03-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：10-14