提高集成电路中测效率的方法研究

摘要：

从探针卡、测试设备、集成电路测试程序等几个不同的方面,在理论基础上结合实际工作中遇到的问题提出采取的有效解决方法,再针对不同的测试方法进行比较,从而达到提高集成电路中测效率的目的.

关键词：探针卡、测试设备、测试程序

所属期刊栏目：31

分类号：TN4(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2011-05-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：16-17,20