网络化边缘扫描集成电路测试系统研制

摘要：

简单论述了边缘扫描测试技术,详述了研制的网络化边缘扫描测试系统的构建方法.针对测试系统的实际应用进行了说明.

关键词：边缘扫描测试、以太网、集成电路测试系统

所属期刊栏目：30

分类号：TN4(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2009-05-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：22-24,27