10.3969/j.issn.1002-2279.2008.05.007
集成电路测试程序优化技术分析
介绍了在ETS770测试系统上对集成电路测试程序进行优化的方法.通过具体数据说明应用不同的测试方法所用时间大不相同.利用适当的测试方法和测试技术可大大减少测试程序的运行时间,降低测试成本.
测试成本、测试时间、程序优化
29
TN4(微电子学、集成电路(IC))
2009-02-24(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
19-20,23
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10.3969/j.issn.1002-2279.2008.05.007
测试成本、测试时间、程序优化
29
TN4(微电子学、集成电路(IC))
2009-02-24(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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