CMOS集成电路电气参数测试方法研究

摘要：

随着大规模集成电路自动测试设备的出现,自动测试技术被广泛应用,实现了高效率的集成电路产品验证,这就使得应用自动测试设备有了一定的流程.首先对CMOS集成电路电气参数的典型测试流程进行介绍,然后对基本测试方法及可能的测试结果逐项加以说明.

关键词：大规模集成电路、自动测试设备、电气参数、测试流程

所属期刊栏目：29

分类号：TN4(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2009-02-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：23-24,27