10.3969/j.issn.1002-2279.2008.04.005
SOC微处理器核测试技术研究
介绍了SOC中微处理器核的几种测试方法(并行测试法,串行测试法,测试接口控制器(TIC)法和内建自测试法)和SOC微处理器核的调试支持,并着重介绍了其中测试接口控制器(TIC)法和内建自测试法两种方法的具体实现.
微处理器核、内建自测试、扫描
29
TN4(微电子学、集成电路(IC))
2009-02-10(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共2页
15-16
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10.3969/j.issn.1002-2279.2008.04.005
微处理器核、内建自测试、扫描
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TN4(微电子学、集成电路(IC))
2009-02-10(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共2页
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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