10.3969/j.issn.1002-2279.2008.02.012
在Teradyne J750上的测试程序调试
由于Teradyne J750测试系统测试速度快,为节省机时,也顺应测试行业的发展,越来越多的程序开始在Teradyne J750测试平台上开发.下面以82C52芯片为例,介绍了在TeradyneJ750测试系统上测试程序的开发.
J750测试系统、测试、串行控制器、波特率
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TN4(微电子学、集成电路(IC))
2008-09-24(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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