10.3969/j.issn.1002-2279.2008.02.004
FPGA测试技术研究
随着FPGA的规模和复杂性的增加,测试显得尤为重要.FPGA测试对技术人员极具挑战性.首先介绍了SRAM型FPGA的结构概况,总结出FPGA的测试方法并应用于FPGA电路的实际测试,对FPGA测试技术进行了有益的探索.
现场可编程门阵列、存储器型FPGA、可编程逻辑块(CLB)、连线资源
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TN407(微电子学、集成电路(IC))
2008-09-24(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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