10.3969/j.issn.1002-2279.2008.01.005
浅谈存储器测试
随着半导体存储器向多品种、高速和高集成化等方向发展,测试问题显得越来越突出和重要.下面主要介绍了存储器电路的分类,以及存储器电路的测试参数和测试向量.
测试、存储器、测试向量
29
TN4(微电子学、集成电路(IC))
2008-06-23(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共2页
14-15
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10.3969/j.issn.1002-2279.2008.01.005
测试、存储器、测试向量
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TN4(微电子学、集成电路(IC))
2008-06-23(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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