10.3969/j.issn.1002-2279.2008.01.002
用全速电流测试方法检测PIC12F509微处理器
全速电流测试是一种新的电路测试方法.这里将一种指令级的全速电流测试方法应用到RISC指令集流水线结构的PIC12F509微处理器测试实验中.实验结果表明使用指令级的全速电流测试方法对PIC12F509微处理器进行测试是可行的.
全速电流测试、PIC12F509微处理器、指令级、流水线
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TN707(基本电子电路)
国家自然科学基金60173042
2008-06-23(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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