10.3969/j.issn.1002-2279.2007.04.007
浅谈CMOS集成电路的IDDQ测试
介绍了IDDQ测试的基本原理和主要测试方法,CMOS IC本质上是电流可测试的,IDDQ测试可有效地提高产品质量,降低芯片生产价格,并且它对失效响应分析(FEA)是非常有用的.
IDDQ测试、缺陷、故障、可靠性
28
TN4(微电子学、集成电路(IC))
2007-11-12(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共2页
18-19
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10.3969/j.issn.1002-2279.2007.04.007
IDDQ测试、缺陷、故障、可靠性
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TN4(微电子学、集成电路(IC))
2007-11-12(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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