10.3969/j.issn.1002-2279.2007.03.004
一种基于IDDT测试的时延故障测试产生算法
瞬态电流测试(IDDT Testing)作为传统电压测试和稳态电流测试(IDDQ Testing)方法的一个补充,越来越受到研究领域和工业界的关注.针对不同的故障类型,基于瞬态电流测试的测试方法也有所不同.这里提出了一种关于时延故障的测试产生算法,该算法利用3个向量来激活时延故障.实验结果表明该测试产生算法用于检测时延故障是可行的.
瞬态电流测试、时延故障、PSPICE模拟、测试产生
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TP331(计算技术、计算机技术)
国家自然科学基金60173042
2007-07-23(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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14-17,20