基于测试片段间转移的低功耗BIST实现

摘要：

随机测试向量产生时,一大部分的测试功耗是由于那些无贡献的测试向量所引起的.文中提出了一种基于测试片段间的转移低功耗BIST结构,该结构采用有效测试向量片段间转移的方式,除去了由随机产生而对故障覆盖率没有贡献的无效向量,并把有效测试向量片段以消耗功耗最小原则依次送入被测电路,减少了测试时间,在硬件代价不高的基础上有效降低了测试功耗.

关键词：内建自测试、测试向量片断、低功耗测试

所属期刊栏目：28

分类号：TP302(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家自然科学基金60173042

在线出版日期：2007-07-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：8-10,13