10.3969/j.issn.1002-2279.2007.01.031
基于ARM和μc/OSⅡ的高性能分析仪表平台设计
介绍了基于Samsung公司的ARM CPU S3C44B0X和RTOS-μC/OSⅡ的仪表平台软硬件设计,对传统分析仪表的数字化改造进行了尝试.首先分析了高性能分析仪表平台的功能,接着以S3C44B0X和RTOS-μC/OSⅡ为基础描述了仪表平台的软硬件设计,并说明了硬件和软件设计应注意的一些问题.
分析仪表、μC/OSⅡ、ARM
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TP216(自动化技术及设备)
2007-05-09(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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