新型的L80C86 CPU电路电磁脉冲试验方法

摘要：

介绍了一种新型的CPU类器件的EMP效应模拟试验方法,通过比较脉冲前后测量波形及CPU寄存器存数的变化,能够更科学地反映电磁脉冲对CPU类电路的影响,得到的结果客观、准确.

关键词：中央处理器、电磁脉冲、寄存器

所属期刊栏目：27

分类号：TN3(半导体技术)

在线出版日期：2007-03-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：22-23,27