SoC功能验证的特点和方法

摘要：

简要分析了传统集成电路(ASIC)验证方法的特点以及将这些方法应用于系统级芯片(SoC)验证时所面临的问题.在此基础上,论述说明了模块级验证是提高SoC验证效率的基础;而基于随机测试激励的验证方法能够提升SoC的功能验证的覆盖率.另外,还介绍了用于SoC功能验证的关键方法,包括断言和RTL形式验证,Farm,随机化测试激励和功能覆盖等.

关键词：系统级芯片、设计、功能验证、断言、功能测试、随机测试激励

所属期刊栏目：27

分类号：TN406(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2006-05-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：11-13