CPU技术发展及其可靠性评价研究

摘要：

本文通过对CPU工作原理的考察和对发展趋势的分析,得出CPU发生失效的几率越来越高,而且原因也越来越多,同时也指出老化筛选试验技术仍然是CPU质量和可靠性保障的重要手段.面对CPU飞速发展所带来的新问题,老化技术面临着许多有待解决的新的技术挑战,强调了制定可操作的CPU老化试验技术规范的紧迫性.

关键词：老化、等比缩小、可靠性

所属期刊栏目：26

分类号：TN43.06(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2005-10-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：3-6