Aptix System ExplorerTM使用方法初探

摘要：

本文描述了Aptix System ExplorerTM硬件仿真系统两种工作方式(MVP & Incircuit)的基本原理及流程,分析了该系统的特点,并给出了如何利用其中的In Circuit模式实现对Intel 8274芯片的测试,并与传统的测试方案进行了对比验证.

关键词：片上系统(SOC)、可编程互连器件(FPIC)、可编程印制版(FPCB)、MVP、Incircuit

所属期刊栏目：25

分类号：TP319(计算技术、计算机技术)

在线出版日期：2004-12-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：47-48