10.3969/j.issn.1002-2279.2001.01.004
内建自测试中多输入特征寄存器的硬件开销的减少
在内建自测试中,针对随机向量测试,本文提出了一种通过输出信号分组压缩来减少多输入特征寄存器MISR的硬件开销的方法。该方法是在分析输出信号之间相关性的基础上,根据给定的MISR阶数构造具有最小相关度的输出信号集合组,以此来减少输出信号分组压缩时的故障覆盖率损失。该方法不需附加任何辅助电路。
内建自测试多输入特征寄存器最小相关度故障覆盖率
TN4(微电子学、集成电路(IC))
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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