MCU可测性设计的实现

摘要：

由于MCU(Micro-Controller Unit)的结构非常复杂,因此若在设计时采用一般数字电路设计的从结构出发的DFT(Design For Testability)技术(包括扫描设计和BIST--Built-In Self-Test )将使电路的规模急剧增大.本文从功能测试的角度出发,提出了一种在MCU中加入规模很小的模式选择电路,对部分电路作较小改动,就使芯片内的各块电路都可被测试的方法.在完成了MCU的可测性设计(Testable Design)后进行了仿真.

关键词：MCU、DFT、功能测试、扫描设计、BIST

分类号：TP3(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家重点技术发展项目

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：4-8