10.3969/j.issn.1002-0802.2009.05.025
基于免疫克隆选择算法的天线方向图综合技术研究
方向图综合技术是智能天线中的一项重要技术.由于采用遗传算法存在着易于早熟和局部寻优能力不足等缺点,为此,文中提出一种基于免疫克隆选择算法的阵列方向图综合技术.仿真结果验证了免疫克隆选择算法相对于标准遗传算法来说更容易找到全局最优解,不易陷入局部极值,且收敛速度快,实际应用表明,基于免疫克隆选择算法的方向图综合技术是切实可行的,且具有很好的推广潜力.
智能天线、方向图综合、免疫克隆选择算法、遗传算法
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TPL8
2009-06-05(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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